센서의 정렬오차(misalignment)는 MEMS 관성 측정 단위(IMU)를 피드백 루프에 사용하는 고성능 동작 제어 시스템에서 상당히 중요하게 고려하는 경우가 많습니다. IMU의 자이로스코프에서 센서의 정렬오차는 각 자이로스코프의 회전축과 시스템에서 정의된 관성 기준 좌표계(전역 좌표계) 사이의 각도 차이를 뜻합니다. 정렬오차가 센서의 정확성에 미치는 영향을 제어하기 위해서는 고유의 패키징, 특수 조립 과정, 또는 최종 구성에서의 복잡한 관성 테스트가 필요할 수 있습니다. 이 글에서는 설계자가 시스템 IMU 기능의 설계 시기를 이해하고 평가하는 데 필요한 정렬에 대한 3가지 기본 개념인 오차 추정, 주요 시스템 작동에 미치는 오차의 영향 파악, 전자 정렬(설치 후)를 정의하고 이에 대해 살펴봅니다.